Caractérisation et nettoyage du silicium : caractérisation physico-chimique et nettoyage par voie humide Caractérisation physico-chimique et nettoyage par voie humide

Éditeur
Lavoisier-Hermès
Format
Livre Broché
Collection
Traité EGEM, Electronique et micro-électronique
Langue
Français
Parution
01 - 2003
Nombre de pages
192
EAN
9782746206052
Dimensions
160 × 240 × 10 mm
CHF 78.20
2 à 3 semaines
Ajouter au panier Ajouter à ma liste

Résumé du livre

Passe en revue les étapes élémentaires de la fabrication de composants micro-électroniques : nettoyage, dépôt métallique, dépôt de couche diélectrique, oxydation, dopage, gravure, lithographie. Présente les techniques de caractérisation, indispensables pour juger de la qualité des procédés. Pour chaque étape, sont détaillés le procédé, les équipements et la physique des techniques.